Data/hora: 03/06/2024 04:28:10

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	29/03/2006	
Data da última atualização: 	29/03/2006	
Autoria: 	ASSIS, O. B. G.; SANTOS, S. F.; BERNARDES-FILHO, R.; RODRIGUES, J. A.	
Título: 	Morphology characterization of sputtered Au films onto mica by atomic force microscopy.	
Ano de publicação: 	1998	
Fonte/Imprenta: 	In: CONGRESSO BRASILEIRO DE APLICAÇÕES DE VÁCUO NA INDÚSTRIA E NA CIÊNCIA-CBRAVIC, 19., 1998, Campinas, SP. Programa oficial; resumos de trabalhos. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron, 1998. Não paginado, ref. 048.	
Idioma: 	Inglês	
Conteúdo: 	Atomic force microscope was applied to investigate the surface morphology of Au sputtered onto cleaved mica. The analysis is based on the comparison of microchanges in the surface's features as the deposition proceeds. 	
Palavras-Chave: 	Atomic force microscope; Au; SEM.	
Thesaurus Nal: 	mica.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (9693-1) - UPC - SP - -- - PROCI-98.00011 -  - 1998.00011 - DIS