Data/hora: 31/05/2024 15:10:25

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	15/03/2006	
Data da última atualização: 	15/03/2006	
Autoria: 	MATTOSO, L. H. C.; FERREIRA, F. C.; HERRMANN, P. S. P.; MARTIN, A. R.; PEREIRA-DA-SILVA, M. A.; PATERNO, L. G.; PIZA, M. A.; CURVELO, A. A. S.; COLNAGO, L. A.; DENES, F.	
Título: 	Atomic force microscopy as a tool for the evaluation of natural fibers and polymers surface.	
Ano de publicação: 	1999	
Fonte/Imprenta: 	In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON WOODFIBER-PLASTIC COMPOSITES, 5., 1999, Madison: Forest Products Society, 1999. p.43-56.	
Idioma: 	Inglês	
Conteúdo: 	The scanning prove microscope is the generic name of a whole family of microscopes that use a probe to detect some physical features to study the surface properties of materials. This class of microscopes can now provide information about nanometer-scale matter properties that are often inaccessible by any other experimental technique.	
Palavras-Chave: 	AFM; Fibras naturais.	
Thesagro: 	Plasma; Plástico.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (9587-1) - UPC - SP - -- - PROCI-99.00092 -  - 1999.00092 - DIS