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Registros recuperados : 77 | |
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Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
13/09/2005 |
Data da última atualização: |
13/09/2005 |
Autoria: |
MARTIN, A. R.; TORIZ, G. G.; MANOLACHE, S.; DENES, F.; MATTOSO, L. H. C. |
Título: |
AFM characterization of sisal fibers modified by cold plasma chemistry. |
Ano de publicação: |
2001 |
Fonte/Imprenta: |
Acta Microscopica, Maracaibo, v. 10, p. 68-73. abr 2001. Supplement 1. Proceedings of The First Latin American Symposium on Scanning Microscopy, São Pedro, SP, april, 2001. |
Idioma: |
Inglês |
Conteúdo: |
Atomic Force Microscopy (AFM) can be successfully used to quantify the surface roughness of sisal fibers treated under dichlorosilane (DS) cold plasma conditions. |
Palavras-Chave: |
Fibras de Sisal; Microscopia de força atômica; Plasma frio. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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