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Registros recuperados : 6 | |
2. | | STEINMETZ, S.; FREITAS, T. F. S. DE; KALSING, A.; TROJAN, S. DA C.; LEONETTI, G. F. Validação do método de graus-dia para estimar a data de ocorrência dos principais estádios de desenvolvimento de cultivares de arroz irrigado. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ARROZ IRRIGADO, 9., 2015, Pelotas. Ciência e tecnologia para otimização da orizicultura: anais. Brasília, DF: Embrapa; Pelotas: Sosbai, 2015. Biblioteca(s): Embrapa Clima Temperado. |
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3. | | LUCIO, F. R.; KALSING, A.; ADEGAS, F. S.; ROSSI, C. V. S.; CORREIA, N. M.; GAZZIERO, D. L. P.; SILVA, A. F. da. Dispersal and frequency of glyphosate-resistant and glyphosate tolerant weeds in soybean-producing edaphoclimatic microregions in Brazil. Weed Technology, v. 33, n. 1, p. 217-231, 2019. Biblioteca(s): Embrapa Cerrados; Embrapa Milho e Sorgo; Embrapa Soja. |
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4. | | KALSING, A.; GOULART, I. C. G. dos R.; MARIOT, C. H. P.; MENEZES, V. G.; MATZENBACHER, F. de O.; MEROTTO JUNIOR, A. Spatial and temporal evolution of imidazolinone-resitant red rice in 'Clearfield' rice cultivations. Pesquisa Agropecuária Brasileira, Brasília, DF, v. 54, e00215, 2019. 8 p. Biblioteca(s): Embrapa Florestas; Embrapa Unidades Centrais. |
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5. | | MEROTTO JUNIOR, A.; GOULART, I. C. G. dos R.; NUNES, A. L.; KALSING, A.; MARKUS, C.; MENEZES, V. G.; WANDER, A. E. Evolutionary and social consequences of introgression of nontransgenic herbicide resistance from rice to weedy rice in Brazil. Evolutionary Applications, v. 9, n. 7, p. 837-846, Aug. 2016. Biblioteca(s): Embrapa Arroz e Feijão; Embrapa Florestas. |
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6. | | MUNDSTOCK, C. M.; MACEDO, V. R. M.; GADEA, A. D. de C.; KALSING, A.; GROHS, D. S.; MARCOLIN, E.; HERNANDES, G.; FUNCK, G. R. D.; ANGHINONI, I.; BOENI, M.; SILVA, P. R. F. da; GUMA, J. M. C. R.; FAGUNDES, C. A. A.; FREITAS, T. F. S.; MENEZES, V. G.; MENEGHETTI, V. Manual de boas práticas agrícolas: guia para a sustentabilidade da lavoura de arroz irrigado do Rio Grande do Sul. Cachoeirinha, RS: IRGA, 2011. 79 p. il. Biblioteca(s): Embrapa Arroz e Feijão; Embrapa Pecuária Sul. |
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Registros recuperados : 6 | |
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| Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
09/02/2001 |
Data da última atualização: |
11/04/2008 |
Autoria: |
LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN, P. S. P. |
Título: |
Medidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos. |
Ano de publicação: |
2000 |
Fonte/Imprenta: |
In: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88. |
Idioma: |
Português |
Conteúdo: |
Utilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silicio. A partir destas curvas, as quais estao relacionadas as curvas de forca, extraimos informacoes sobre a interacao entre a agulha e o liquido, como forcas de adesao e espessura da camada de liquido adsorvido, e entre a agulha e o substrato, como elasticidade e dureza. MenosUtilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silic... Mostrar Tudo |
Palavras-Chave: |
Evento cientifico; Instrumentacao; MFA; Microscopia de forca atomica; Piezoeletrico. |
Thesagro: |
Adsorção. |
Thesaurus NAL: |
atomic force microscopy; instrumentation. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 02571naa a2200241 a 4500 001 1030892 005 2008-04-11 008 2000 bl --- 0-- u #d 100 1 $aLEITE, F. L. 245 $aMedidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos. 260 $c2000 520 $aUtilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silicio. A partir destas curvas, as quais estao relacionadas as curvas de forca, extraimos informacoes sobre a interacao entre a agulha e o liquido, como forcas de adesao e espessura da camada de liquido adsorvido, e entre a agulha e o substrato, como elasticidade e dureza. 650 $aatomic force microscopy 650 $ainstrumentation 650 $aAdsorção 653 $aEvento cientifico 653 $aInstrumentacao 653 $aMFA 653 $aMicroscopia de forca atomica 653 $aPiezoeletrico 700 1 $aZIEMATH, E. C. 700 1 $aHERRMANN, P. S. P. 773 $tIn: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88.
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