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Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 09/02/2001
Data da última atualização: | 11/04/2008
Autoria: | LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN, P. S. P.
Título: | Medidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos.
Ano de publicação: | 2000
Fonte/Imprenta: | In: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88.
Idioma: | Português
Conteúdo: | Utilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido  as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silicio. A partir destas curvas, as quais estao relacionadas as curvas de forca, extraimos informacoes sobre a interacao entre a agulha e o liquido, como forcas de adesao e espessura da camada de liquido adsorvido, e entre a agulha e o substrato, como elasticidade e dureza.
Palavras-Chave: | Evento cientifico; Instrumentacao; MFA; Microscopia de forca atomica; Piezoeletrico.
Thesagro: | Adsorção.
Thesaurus Nal: | atomic force microscopy; instrumentation.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)

Exemplares:

CNPDIA - (5834-1) - UPC - SP - -- - PROCI-00.00091 -  - 2000.00091 - DIS
CNPDIA - (11182-1) - UPC - SP - -- - PROCI-00.00092 -  - 2000.00092 - DIS