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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
10/03/2005 |
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Data da última atualização: |
10/03/2005 |
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Autoria: |
BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. |
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Título: |
Microscopia de força atômica. |
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Ano de publicação: |
2004 |
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Fonte/Imprenta: |
In: CANEVAROLO JR., S.V. (coord). Técnicas de caracterização de polímeros. São Paulo: Artliber, 2004. cap. 10, p. 201-207. |
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Idioma: |
Português |
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Conteúdo: |
O uso de diferentes técnicas de microscopia de força atômica tem propiciado avanços substantivos no estudo de polímeros, devido, principalmente, à possibilidade de se realizar medidas sem necessidade de recobrimento com metal ou uso do vácuo, o que reduz significativamente as alterações decorrentes destes métodos de preparação de amostras. Desta forma a microscopia de força atômica possibilita o estudo das superfícies de polímeros com resolução superior à obtida com a microscopia de varredura eletrônica, além de propiciar a obtenção de dados adicionais, como força magnética, força elétrica, rugosidade e dados tribológicos. Neste capítulo, serão apresentados os fundamentos da microscopia de força atômica, bem como exemplos de sua utilização no estudo de polímeros.
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Palavras-Chave: |
AFM; MFA; Microscopia de varredura de força; MVF; Nano-escala; SFM. |
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Categoria do assunto: |
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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