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Registros recuperados : 119 | |
6. | | HERRMANN, P. S. P.; CRUVINEL, P. E. Balanca eletronica digital para fins agronomicos. In: REUNIAO ANUAL DA SBPC, 37., 1985, Belo Horizonte, MG. Ciencia e Cultura, Sao Paulo, v.37, n.7, p.25, jul. 1985. Suplemento. Resumos. ref.02-A.5.2. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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10. | | LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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16. | | ANTUNES, H. J.; CALBO, A. G.; HERRMANN, P. S. P. Investigation of the influence of the water vapor in the electric response of the conductive polymer used to developed disposable sensor using line patterning technique. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS - SbpMat, 6., 2007, Natal; BRAZILIAN MRS MEETING, 6., 2007, Natal. Abstracts... Natal: SBMat, 2007. 1 CD-ROM. Não paginado. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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18. | | HERRMANN, P. S. P.; VAZ, C. M. P.; CRESTANA, S. Caracterização na escala nanométrica, de caolinita, através da microscopia de varredura por força. In: REUNIÃO BRASILEIRA DE MANEJO E CONSERVAÇÃO DO SOLO E DA ÁGUA, 13., 2000, Ilhéus, BA. 500 anos de uso do solo no Brasil. Ilhéus: CEPLAC: CEPEC, 2000. p. 290-291. 1 CD-ROM. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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Registros recuperados : 119 | |
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| Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
15/03/2006 |
Data da última atualização: |
15/03/2006 |
Autoria: |
MATTOSO, L. H. C.; FERREIRA, F. C.; HERRMANN, P. S. P.; MARTIN, A. R.; PEREIRA-DA-SILVA, M. A.; PATERNO, L. G.; PIZA, M. A.; CURVELO, A. A. S.; COLNAGO, L. A.; DENES, F. |
Título: |
Atomic force microscopy as a tool for the evaluation of natural fibers and polymers surface. |
Ano de publicação: |
1999 |
Fonte/Imprenta: |
In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON WOODFIBER-PLASTIC COMPOSITES, 5., 1999, Madison: Forest Products Society, 1999. p.43-56. |
Idioma: |
Inglês |
Conteúdo: |
The scanning prove microscope is the generic name of a whole family of microscopes that use a probe to detect some physical features to study the surface properties of materials. This class of microscopes can now provide information about nanometer-scale matter properties that are often inaccessible by any other experimental technique. |
Palavras-Chave: |
AFM; Fibras naturais. |
Thesagro: |
Plasma; Plástico. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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