Data/hora: 14/06/2024 15:32:20

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	20/01/2006	
Data da última atualização: 	20/01/2006	
Autoria: 	LEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H.	
Título: 	Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs.	
Ano de publicação: 	2005	
Fonte/Imprenta: 	LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.	
Idioma: 	Inglês	
Conteúdo: 	An AFM has been used as force spectrometer to analyze repulsive and atractive forces generated in solution on polyaniline and poly(o-ethoxyaniline) films in different pHs. 	
Palavras-Chave: 	Atomic force spectroscopy; LBL/ Layer-by-lyer films; PANI; POEA.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (9208-1) - UPC - SP - -- - PROCI-05.00051 -  - 2005.00051 - DIS