Data/hora: 02/06/2024 18:20:05

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 29/03/2006
Data da última atualização: | 29/03/2006
Autoria: | ASSIS, O. B. G.; BERNARDES-FILHO, R.; PESSOA, J. D. C.
Título: | The surface roughness assessment: a comparison between AFM and SEM profile lines.
Ano de publicação: | 1998
Fonte/Imprenta: | In: INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY=MEMORIAS DEL CONGRESO INTERNACIONAL DE MICROSCOPÍA ELETRÓNICA-ICEM, 14., 1998, Cancún. Electron microscopy 1998: paper presented... Bristol: Institute of Physics Publshing, 1998. v.3, p. 703-704. Edited by: Héctor A. Calderón Benavides, Miguel José Yacamán.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | The ability to visualize and quantify surface roughness is fundamental in understanding how to process materials with improved performance since surface conditions govern a great range of engineering materials properties. For such assessment, the most widely used measuring instrument isthe mechanical profilometer.
Palavras-Chave: | AFM; Atomic Force Microscope; Scanning Electron Microscope; Scanning Probe Microscope; SEM; SPM.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (9683-1) - UPC - SP - -- - PROCI-98.00004 -  - 1998.00004 - DIS