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Data/hora: 16/05/2024 05:31:24

REIS, E. M.; ZANATTA, M.; JULIATTI, F. C.; CAMPOS, H. D.; SILVA, L. H. C. P.; MEYER, M. C.; NUNES JUNIOR, J.; PIMENTA, C. B.; CASSETARI NETO, D.; MACHADO, A. Q.; UTIAMADA, C. M. A critical-point yield model to appraise the damage caused to soybean by white-mold. Bioscience Journal, v. 36, n. 6, p. 1816-1820, 2020. Título em português: Modelo de ponto crítico para estimar os danos causados pelo Mofo-branco em soja.
Artigo de acesso aberto.
URL: https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/221949/1/2020-A-critical-point-yield-model-white-mold.pdf
Biblioteca(s): Embrapa Soja.