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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Arroz e Feijão. |
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Data corrente: |
28/05/2020 |
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Data da última atualização: |
04/02/2022 |
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Tipo da produção científica: |
Resumo em Anais de Congresso |
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Autoria: |
RODRIGUES, L. L.; TORRES, M. H. R. M.; SOUZA, T. L. P. O. de; MELO, L. C.; PEREIRA, H. S. |
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Afiliação: |
LUDIVINA LIMA RODRIGUES, doutoranda UFG; MARIO HENRIQUE RODRIGUES MENDES, doutorando UFG; THIAGO LIVIO PESSOA OLIV DE SOUZA, CNPAF; LEONARDO CUNHA MELO, CNPAF; HELTON SANTOS PEREIRA, CNPAF. |
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Título: |
Associação entre o escurecimento dos grãos e reação à murcha de fusarium em feijão carioca. |
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Ano de publicação: |
2019 |
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Fonte/Imprenta: |
In: SEMINÁRIO JOVENS TALENTOS, 13., 2019, Santo Antônio de Goiás. Resumos... Santo Antônio de Goiás: Embrapa Arroz e Feijão, 2019. |
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Páginas: |
p. 69. |
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ISBN: |
978-65-86056-69-3 |
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Idioma: |
Português |
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Conteúdo: |
O objetivo deste trabalho foi verificar se existe relação genética entre o escurecimento dos grãos e a reação à murcha de Fusarium (patógeno). |
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Thesagro: |
Escurecimento; Feijão; Grão; Murcha de Fusarium; Phaseolus Vulgaris. |
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Categoria do assunto: |
G Melhoramento Genético |
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URL: |
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/213373/1/CNPAF-2019-jt-p.69.pdf
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Arroz e Feijão (CNPAF) |
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Biblioteca |
ID |
Origem |
Tipo/Formato |
Classificação |
Cutter |
Registro |
Volume |
Status |
URL |
Voltar
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
13/09/2005 |
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Data da última atualização: |
13/09/2005 |
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Autoria: |
MARTIN, A. R.; TORIZ, G. G.; MANOLACHE, S.; DENES, F.; MATTOSO, L. H. C. |
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Título: |
AFM characterization of sisal fibers modified by cold plasma chemistry. |
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Ano de publicação: |
2001 |
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Fonte/Imprenta: |
Acta Microscopica, Maracaibo, v. 10, p. 68-73. abr 2001. Supplement 1. Proceedings of The First Latin American Symposium on Scanning Microscopy, São Pedro, SP, april, 2001. |
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Idioma: |
Inglês |
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Conteúdo: |
Atomic Force Microscopy (AFM) can be successfully used to quantify the surface roughness of sisal fibers treated under dichlorosilane (DS) cold plasma conditions. |
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Palavras-Chave: |
Fibras de Sisal; Microscopia de força atômica; Plasma frio. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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