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Registro Completo |
Biblioteca(s): |
Embrapa Pecuária Sudeste. |
Data corrente: |
15/04/2021 |
Data da última atualização: |
22/09/2021 |
Tipo da produção científica: |
Resumo em Anais de Congresso |
Autoria: |
MASSELLI, G. M.; OLIVEIRA, T. C. E. DE; CECÍLIO, N. G.; FÉLIX, G. C.; SOUZA, G. B. de; PICCHI, C. M. C.; FERREIRA, A. U. de C. |
Afiliação: |
GABRIELA MOMENTÉ MASSELLI, UFSCAR; THAYSE CHRISTINA ELIAS DE OLIVEIRA, UFSCAR; NATÁLIA GERALDO CECÍLIO, UFSCAR; GUILHERME CAZAGRANDE FÉLIX, UFSCAR; GILBERTO BATISTA DE SOUZA, CPPSE; CRISTINA MARIA CIRINO PICCHI, CPPSE; AVELARDO URANO DE CARVALHO FERREIRA, CPPSE. |
Título: |
Validação do método de determinação de matéria seca e umidade por secagem direta em estufa empregado em diferentes matrizes utilizadas na nutrição animal. |
Ano de publicação: |
2020 |
Fonte/Imprenta: |
In: JORNADA CIENTÍFICA DA EMBRAPA SÃO CARLOS, 12., 2020, São Carlos, SP. Anais... São Carlos, SP: Embrapa Instrumentação; Embrapa Pecuária Sudeste, 2020. |
Páginas: |
p.43. |
Série: |
(Embrapa Instrumentação. Documentos, 71). |
ISSN: |
1518-7179 |
Idioma: |
Português |
Conteúdo: |
A norma ABNT NBR ISO/IEC 17025:2017 estabelece em seu item 7.7 que o laboratório realizador de ensaios deve validar as metodologias em uso para garantir a qualidade dos seus resultados, comprovando que o método que está sendo executado, esteja fornecendo resultados confiáveis e adequados ao uso pretendido. A alta porcentagem de umidade pode interferir na composição do alimento e por consequência prejudicar a estabilidade e a qualidade. |
Palavras-Chave: |
Forrageiras; Validação de métodos. |
Thesagro: |
Matéria Seca; Nutrição Animal. |
Categoria do assunto: |
W Química e Física |
URL: |
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/222648/1/ValidacaoMetodoDeterminacao.pdf
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Pecuária Sudeste (CPPSE) |
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Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
29/03/2006 |
Data da última atualização: |
29/03/2006 |
Autoria: |
ASSIS, O. B. G.; BERNARDES-FILHO, R.; PESSOA, J. D. C. |
Título: |
The surface roughness assessment: a comparison between AFM and SEM profile lines. |
Ano de publicação: |
1998 |
Fonte/Imprenta: |
In: INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY=MEMORIAS DEL CONGRESO INTERNACIONAL DE MICROSCOPÍA ELETRÓNICA-ICEM, 14., 1998, Cancún. Electron microscopy 1998: paper presented... Bristol: Institute of Physics Publshing, 1998. v.3, p. 703-704. Edited by: Héctor A. Calderón Benavides, Miguel José Yacamán. |
Idioma: |
Inglês |
Conteúdo: |
The ability to visualize and quantify surface roughness is fundamental in understanding how to process materials with improved performance since surface conditions govern a great range of engineering materials properties. For such assessment, the most widely used measuring instrument isthe mechanical profilometer. |
Palavras-Chave: |
AFM; Atomic Force Microscope; Scanning Electron Microscope; Scanning Probe Microscope; SEM; SPM. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 01193naa a2200217 a 4500 001 1027003 005 2006-03-29 008 1998 bl --- 0-- u #d 100 1 $aASSIS, O. B. G. 245 $aThe surface roughness assessment$ba comparison between AFM and SEM profile lines. 260 $c1998 520 $aThe ability to visualize and quantify surface roughness is fundamental in understanding how to process materials with improved performance since surface conditions govern a great range of engineering materials properties. For such assessment, the most widely used measuring instrument isthe mechanical profilometer. 653 $aAFM 653 $aAtomic Force Microscope 653 $aScanning Electron Microscope 653 $aScanning Probe Microscope 653 $aSEM 653 $aSPM 700 1 $aBERNARDES-FILHO, R. 700 1 $aPESSOA, J. D. C. 773 $tIn: INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY=MEMORIAS DEL CONGRESO INTERNACIONAL DE MICROSCOPÍA ELETRÓNICA-ICEM, 14., 1998, Cancún. Electron microscopy 1998: paper presented... Bristol: Institute of Physics Publshing, 1998.$gv.3, p. 703-704. Edited by: Héctor A. Calderón Benavides, Miguel José Yacamán.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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