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BDPA - Bases de Dados da Pesquisa Agropecuária Embrapa
 






Registro Completo
Biblioteca(s):  Embrapa Roraima.
Data corrente:  07/04/2006
Data da última atualização:  07/04/2006
Autoria:  SANTOS, J. M. dos.
Título:  Microscópia eletrônica de varredura aplicada às ciências biológicas.
Ano de publicação:  1996
Fonte/Imprenta:  Jaboticabal: UNESP, 1996.
Páginas:  56 p.
Idioma:  Português
Conteúdo:  I PARTE. Poder de resolução. Súmula histórica da microscopia eletrônica. Teoria da microscopia eletrônica de varredura. Interação do feixe primário de elétrons com o espécimen. Formação da imagem no MEV. Ampliação da imagem no MEV. Fatores que influenciam a qualidade de imagem. Estéreo elétrom-micrografias. Orientação do espécimen em relação ao detector. influência da descarga ("charge-up") sobre a qualidade da imagem. Preparação de espécimens para a microscopia eletrônica de varredura. Limpeza do espécimen. Fixação. Desidratação. Secagem do espécimen. Montagem da amostra. Metalização. Noções básicas sobre a fotografia. Teoria básica. II PARTE. Como ligar a máquina. Como inserir ou trocar um espécimen. Alinhamento do MEV. Saturação do filamento. Correção do astigmatismo. Tomando elétrons-micrografias ("fotografando"). Como trocar o filme na máquina. desligando o MEV. Revelação do filme. copiando elétron-micrografias (=fazendo as "fotos"). Técnica de remoção da imagem. Materiais necessários: procedimento. Preparo de soluções-tampões. Instruções para operação do secador de ponto crítico (SPC) marca TOUSIMIS 780 A. Instruções para operação do metalizador JEOL ION SPUTTER JFC- 1100. Cuidados recomendados no manuseio de tetróxido de ósmo.
Categoria do assunto:  --
Marc:  Mostrar Marc Completo
Registro original:  Embrapa Roraima (CPAF-RR)
Biblioteca ID Origem Tipo/Formato Classificação Cutter Registro Volume Status URL
CPAF-RR6336 - 1ADDLV - --502.825S231m2006.02306
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Biblioteca(s):  Embrapa Agrossilvipastoril; Embrapa Soja.
Data corrente:  06/09/2023
Data da última atualização:  09/02/2024
Tipo da produção científica:  Artigo em Anais de Congresso
Autoria:  WRUCK, D. S. M.; RAMOS JUNIOR, E. U.; WRUCK, F. J.; RISPOLI, A. C.; FIORINI, T. M.; FERRARI, G. H.; CLAMER, E. L. B.; GIMENEZ, J. E. D.; STRAPAZZON, A. S.; TURRA, H. Z.; CERAFIM, R. C.; PINTO, A. P. A. C.; AZEVEDO, J. M. P. M.; XAVIER, M. F.; CRIALESI, R. M. S.; SANTOS, F. F.; SANTOS, S. P.; MENEGUCI, B. R.
Afiliação:  DULANDULA SILVA MIGUEL WRUCK, CPAMT; EDISON ULISSES RAMOS JUNIOR, CNPSO; FLAVIO JESUS WRUCK, CPAMT; A. C. RISPOLI, UNIFASIPE; T. M. FIORINI, UNIFASIPE; G. H. FERRARI, UNIFASIPE; E. L. B. CLAMER, UNIFASIPE; J. E. D. GIMENEZ, UNIFASIPE; A. S. STRAPAZZON, UNIFASIPE; H. Z. TURRA, UNIFASIPE; R. C. CERAFIM, UNIVERSIDADE FEDERAL DE MATO GROSSO; A. P. A. C. PINTO, UNIVERSIDADE FEDERAL DE MATO GROSSO; J. M. P. M. AZEVEDO, FACULDADE DE TECNOLOGIA DE SINOP; M. F. XAVIER, FACULDADE DE TECNOLOGIA DE SINOP; R. M. S. CRIALESI, UNIVERSIDADE PITÁGORAS UNOPAR ANHANGUERA; F. F. SANTOS, INSTITUTO FEDERAL DE MATO GROSSO; S. P. SANTOS, INSTITUTO FEDERAL DE MATO GROSSO; B. R. MENEGUCI.
Título:  Incidência de podridão das vagens no sistema de plantio direto na safra 2022/2023 em Sorriso, MT.
Ano de publicação:  2023
Fonte/Imprenta:  In: REUNIÃO DE PESQUISA DE SOJA, 38., 2023, Londrina. Resumos expandidos... Londrina: Embrapa Soja, 2023. (Embrapa Soja. Eventos técnicos & científicos, 1). p. 98-100. resumo 27.
Idioma:  Português
Notas:  Editado por Fernando Augusto Henning, Regina Maria Villas Bôas de Campos Leite. RPS 2023.
Conteúdo:  Resumo: Nas últimas quatro safras tem se observado a ocorrência de apodrecimento de grãos e vagens em estádio final de formação em lavouras de soja. A ocorrência dessa anomalia, até o momento, está localizada nos municípios da região médio norte do Estado de MT. Essa região corresponde a 31% da área semeada de soja do Estado e os relatos de perdas por esse problema variaram de 16% a 30% na safra 2021/2022, um potencial de perda de 59 milhões de sacas (Comunicado..., 2022). Como esse problema é relativamente novo, não há muitas informações publicadas até o momento, somente relatos obtidos de produtores e consultores. As informações sobre essa anomalia baseiam-se em observações dos sintomas não sendo ainda possível indicar se o agente causal é biótico, abiótico ou uma interação entre ambos. Consequentemente, não existe posicionamento de manejo. Existe a dúvida se o modelo de sistema de produção pode interferir na severidade do apodrecimento das vagens da soja. Assim, o objetivo desse trabalho foi avaliar a ocorrência de podridão das vagens nos sistemas de produções de plantio direto e integração lavoura-pecuária, na safra 2022/2023.
Thesagro:  Plantio Direto; Podridão; Soja; Vagem.
Thesaurus NAL:  Plant diseases and disorders; Soybeans.
Categoria do assunto:  X Pesquisa, Tecnologia e Engenharia
URL:  https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/doc/1161913/1/2023-cpamt-dsmw-incidencia-podridao-vagens-plantio-direto-safra-2022-2023-sorriso.pdf
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/doc/1156498/1/p-98-ETC-1-RPS-2023-res-exp-2-13.pdf
Marc:  Mostrar Marc Completo
Registro original:  Embrapa Agrossilvipastoril (CPAMT)
Biblioteca ID Origem Tipo/Formato Classificação Cutter Registro Volume Status
CNPSO40959 - 1UPCAA - DD
CPAMT1967 - 1UPCAA - DD
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