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Registros recuperados : 4 | |
4. | | LEITE, F. L.; ALVES, W. F.; MIR, M.; MASCARENHAS, Y. P.; HERRMANN, P. S. P.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands. Applied Physics. A, Materials Science and Processing, [S. l.], v. 93, n. 2, p. 537-542, 2008. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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Registros recuperados : 4 | |
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Registros recuperados : 1 | |
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