| |
|
|
|
Registro Completo |
|
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
|
Data corrente: |
05/04/2005 |
|
Data da última atualização: |
05/04/2005 |
|
Autoria: |
FIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. |
|
Título: |
AFM as a tool for development sensors. |
|
Ano de publicação: |
2003 |
|
Fonte/Imprenta: |
Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM. |
|
Idioma: |
Inglês |
|
Conteúdo: |
Atomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale. |
|
Palavras-Chave: |
Microscopia de Força Atômica; Polímeros; Sensores; Superfície. |
|
Categoria do assunto: |
-- |
|
Marc: |
LEADER 01231naa a2200241 a 4500
001 1028910
005 2005-04-05
008 2003 bl --- 0-- u #d
100 1 $aFIRMINO, A.
245 $aAFM as a tool for development sensors.
260 $c2003
520 $aAtomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale.
653 $aMicroscopia de Força Atômica
653 $aPolímeros
653 $aSensores
653 $aSuperfície
700 1 $aBORATO, C. E.
700 1 $aLEITE, F. L.
700 1 $aRIUL JR.
700 1 $aA.
700 1 $aBERNARDES FILHO, R.
700 1 $aMATTOSO, L. H. C.
773 $tActa Microscopica, Maracaibo$gv. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.
Download
Esconder MarcMostrar Marc Completo |
|
Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
|
|
Biblioteca |
ID |
Origem |
Tipo/Formato |
Classificação |
Cutter |
Registro |
Volume |
Status |
URL |
Voltar
|
|
|
| Registros recuperados : 1 | |
| Registros recuperados : 1 | |
|
| Nenhum registro encontrado para a expressão de busca informada. |
|
|
