Data/hora: 03/06/2024 06:32:52

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	07/02/2006	
Data da última atualização: 	07/02/2006	
Autoria: 	LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P.	
Título: 	Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS).	
Ano de publicação: 	2005	
Fonte/Imprenta: 	Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005.	
Idioma: 	Inglês	
Conteúdo: 	In this paper, we employ AFS to measure adhesion (pull-off force) between the AFM tip and two types of substrate. Adhesion maps are used to illustrate sample regions that had been contaminated with organic compounds.	
Palavras-Chave: 	Adhesion forces; Atomic Force Spectroscopy.	
Thesaurus Nal: 	roughness; van der Waals forces.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (9390-1) - UPC - SP - -- - PROCI-05.00129 -  - 2005.00129 - DIS