Data/hora: 14/06/2024 16:10:36

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 20/01/2006
Data da última atualização: | 20/01/2006
Autoria: | LEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H.
Título: | Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs.
Ano de publicação: | 2005
Fonte/Imprenta: | LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | An AFM has been used as force spectrometer to analyze repulsive and atractive forces generated in solution on polyaniline and poly(o-ethoxyaniline) films in different pHs.
Palavras-Chave: | Atomic force spectroscopy; LBL/ Layer-by-lyer films; PANI; POEA.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (9208-1) - UPC - SP - -- - PROCI-05.00051 -  - 2005.00051 - DIS