Data/hora: 03/06/2024 09:10:11

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 05/04/2005
Data da última atualização: | 05/04/2005
Autoria: | FIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C.
Título: | AFM as a tool for development sensors.
Ano de publicação: | 2003
Fonte/Imprenta: | Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | Atomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale.
Palavras-Chave: | Microscopia de Força Atômica; Polímeros; Sensores; Superfície.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (8783-1) - UPC - SP - -- - PROCI-03.00128 -  - 2003.00005 - DIS