Data/hora: 04/06/2024 18:06:45

Biblioteca(s): | Embrapa Solos.
Data corrente: | 12/03/2010
Data da última atualização: | 16/05/2024
Autoria: | CALDERANO, S. B.; DUARTE, M. N.; GREGORIS, G.
Afiliação: | SEBASTIAO BARREIROS CALDERANO, CNPS; MARIZA NASCIMENTO DUARTE, CNPS; GILSON GREGORIS, CNPS.
Título: | Análise mineralógica das frações finas do solo por difratometria de raios-X: revisão e atualização da metodologia e critérios usados na Embrapa Solos.
Ano de publicação: | 2009
Fonte/Imprenta: | Rio de Janeiro: Embrapa Solos, 2009.
Páginas: | 9 p.
Descrição Física: | il. color.
Série: | (Embrapa Solos. Comunicado técnico, 53).
ISSN: | 1517-5685
Idioma: | Português
Conteúdo: | O presente trabalho é uma revisão e atualização dos procedimentos adotados pela Embrapa Solos, descritos em Embrapa (1997), para execução de análise mineralógica das frações finas do solo por meio da difratometria de raios-X.
Palavras-Chave: | Análise mineralógica; Difratometria; Raio-X.
Categoria do assunto: | P Recursos Naturais, Ciências Ambientais e da Terra
URL: | http://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/CNPS-2010/14631/1/comtec53-2009.pdf
Registro original: | Embrapa Solos (CNPS)

Exemplares:

CNPS - (14631-1) - UMT - FL - DD - CT 053 -  - 2009.00021 - DIS
CNPS - (14631-2) - UMT - FL - PP - FOL 3044 -  - 2009.00028 - DIS