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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Algodão. |
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Data corrente: |
06/02/2009 |
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Data da última atualização: |
05/03/2009 |
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Tipo da produção científica: |
Capítulo em Livro Técnico-Científico |
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Autoria: |
AZEVEDO, A. C. dos S.; BEDROSSIAN, C.; BÉLOT, J. - L.; BELTRÃO, N. E. de M.; BERTHAUD, A.; CARLI, M.; CLEMENT, D.; COSTA, F. C.; GONZÁLES, W. de A.; MACEDO, L. A. de; PRADES, A.; QUIRINO, W. F.; ROSCOE, R.; ROUSSET, P.; SILVA, D. A. da; SILVA, O.; SILVIE, P. |
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Afiliação: |
Napoleão Esberard de Macêdo Beltrão, Embrapa Algodão. |
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Título: |
Fiches descriptives des olèagineuses brèsiliennes. |
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Ano de publicação: |
2008 |
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Fonte/Imprenta: |
In: ROUSSET, P. (Coord.). Guide technique pour une utilisation énergétique des huiles végétables. Brasília, DF: CIRAD, 2008. |
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Páginas: |
p. 20-206 |
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Idioma: |
Francês |
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Palavras-Chave: |
Noz do Brasil; Oleaginosas brasileiras; Tucumã. |
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Thesagro: |
Açaí; Algodão; Amendoim; Andiroba; Babaçu; Bacaba; Buriti; Cacau; Colza; Copaíba; Cupuaçu; Dendê; Macaúba; Mamona; Murumuru. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Algodão (CNPA) |
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Biblioteca |
ID |
Origem |
Tipo/Formato |
Classificação |
Cutter |
Registro |
Volume |
Status |
URL |
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
05/04/2005 |
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Data da última atualização: |
05/04/2005 |
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Autoria: |
FIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. |
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Título: |
AFM as a tool for development sensors. |
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Ano de publicação: |
2003 |
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Fonte/Imprenta: |
Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM. |
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Idioma: |
Inglês |
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Conteúdo: |
Atomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale. |
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Palavras-Chave: |
Microscopia de Força Atômica; Polímeros; Sensores; Superfície. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
LEADER 01231naa a2200241 a 4500
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520 $aAtomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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